Lösungen
Unsere Märkte
Technologien und Lösungen von A bis Z
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A
Ablenkung, Laserstrahl →
Absorptionsmessungen (spektral) →
Akustische Produktoptimierung →
Akustische Qualitätssicherung →
Autokorrelation →
B
Bahnwareninspektion
- Geschwindigkeit und Länge →
- Linienlichter →
Bestrahlungsstärkemessungen →
Bildverarbeitung →
Braggzelle →
C
Cavity-Dumping →
D
Digitale Mikro- und Makroskopie
- Infinity X →
- Makro- und Systemobjektive →
Display-Vermessungen →
Dosismessungen (optisch) →
Dynamische Wegmessung
E
Elektrische Anlagen
- Temperaturmessung →
Emissivitäts-Messung →
EOM →
F
Faraday-Isolator → Farbmessung →
Fertigungsprüfung →
Fluchtung, Laser- →
Fluoreszenzanalyse →
Fluoreszenzanregung →
Fluoreszenzimaging →
Frequenzverschiebung →
FROG-Messtechnik →
Füllstandsmessung →
G
Geschwindigkeitsmessung →
H
Halbleitermesstechnik
- CV-Messtechnik →
- Vierspitzen-Messtechnik →
HF
- Temperaturmessung →
Hochgeschwindigkeitsanwendungen
- Schwingungsmessung →
- X-Pri →
- FastSpeed (StreamPix + Pike) →
Holographie →
Hyperspectral Imaging →
I
Inspektion, Laser- →
Interferometrie →
Isolation, optische →
J
K
Kalibrierung, Schwingungsmesstechnik →
Kalibrierung von IR-/VIS-Kameras →
Kapillar-Elektrophorese →
Keimabtötung →
Konfokale Mikroskopie →
L
Längenmessung →
Laser →
- Inspektion →
- Strahlablenkung →
- Rauschunterdrückung →
- Intensitätsstabilisierung →
Mikromaterialbearbeitung →
- Intensitätsmodulation
AOM → / EOM →
- Strahlablenkung AOM → /EOM →
- Fluchtung →
- Markierung →
- Ablation →
- Anregung →
- Faserkopplung →
- ns-Laser →
- fs-Laser →
- ps-Laser →
Laserstrahldiagnose
- Leistung/Energie →
LED-Vermessungen →
- spektral, Peakbestimmung →
- Candela-Messungen →
Leistungsmessung (optisch) →
Leuchtdichtemessungen →
Lichtmessung
- Laser →
- LEDs →
M
Magnetic Resonanz-Tomographie (MRT) →
Markierung, Laser- →
Mastering von DVD und Print-Medien →
MEMS-Dynamik →
Mikroskop-Vibrometer →
Mikrosystemtechnik →
Mikrowellen
Modalanalyse →
MTF-Bestimmung →
Multi-Photonen-Mikroskopie →
N
NIR-Imaging →
NIR-Kameras →
- Füllstandsmessungen →
- Schadhafte Früchte →
- Waferinspektion →
- Sicherheitsmerkmale →
- Unterzeichnungen bei Gemälden →
O
Oberflächenmessung →
Optical Cytometry →
optische Heterodyne-Technik →
Optische Kohärenz-Tomographie →
P
Phasenshift →
Photobiologie →
Photometrie →
Photoresist oder Fotolack →
Photostabilität →
Phototherapie →
PIV (Particle-Image-Velocimetrie) →
Plasmaanlagen
- Temperaturmessung →
Pockelszelle →
Polarisationsdrehung
Positionsbestimmung →
Positionskontrolle -> VisionPackages →
Problemanalyse von schnellen Produktionsvorgängen
High Speed-Prozessüberwachung →
Pulse-Picking →
Q
Qualitätskontrolle
- Schwingungsprüfung →
- VisionPackages →
Quantitative Analyse →
R
Radiometrie (Remote Sensing) →
Radiometrie (Lichtmesstechnik) →
Ramananregung →
Raman-Spektroskopie →
S
Schwarzkörperstrahlung →
Schwingungsmessung →
Signal-Simulation →
Sortieraufgaben -> VisionPackages →
Spektrale Materialeigenschaften →
Spektrale Temperaturmessung →
Spektrometrie →
Spektroradiometrie →
Spektroskopie
- Mini-Spektrometer →
- PSS Spektrometersysteme →
- Laser und Lasersysteme →
- - Ramanspektroskopie →
T
Temperaturmessung →
Testsysteme, elektro-optische →
- FLIR-Test →
- CCD-Test →
- Laser-Test →
- Boresight-Test →
- HUD-Test →
- Detektor-Test →
- Multisensor-Test →
- IRCM-Test →
Topographiemessung →
Transmissionsmessungen (spekral) →
U
Ulbrichtkugeln →
Unterzeichnungen
- Gemälde →
- Sicherheitsmerkmale →
UV-Aushärtung, -Trocknung →
UVA-, UVB-, UVC-Messungen →
V
W
Waferinspektion
- Laser →
- NIR →
- MEMS-Geometrie →
- MEMS-Schwingungsmessung →
X
Y
Z
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung →
Zuschnittsteuerung →  |
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