• Vibrometer
    Vibrometer

    Berührungslose Schwingungsmessung in Forschung, Entwicklung und Fertigung

  • Velocimeter
    Velocimeter

    Berührungslose Messung von Länge und Geschwindigkeit in der Produktion

  • Oberflächen- Messtechnik
    Oberflächenmesstechnik

    Berührungslose Messung der Oberflächen- Topographie in Labor und Fertigung

  • Spektrale Messtechnik
    Spektrale Messtechnik

    Systeme und Komponenten für spektrale Messungen in Forschung und Industrie

  • Bildverarbeitung
    Industrielle Bildverarbeitung

    Industrielle Bildverarbeitung

    Für individuelle und anspruchsvolle Aufgabenstellungen im Bereich der industriellen Bildverarbeitung bietet Polytec ein breites Spektrum an Komponenten an.
  • Optische Strah- lungsmessung
    Optische Strahlungsmessung

    Mini-Spektrometer, Lichtmesstechnik, Laserstrahldiagnose, Detektoren

  • Elektro-Optische Testsysteme
    Elektro-Optische Testsysteme

    Für Forschung & Entwicklung, Produktion, Qualitätskontrolle, Service

  • Laser, Lasersysteme und Zubehör
    Laser

    Laser, Lasersysteme und Zubehör für Forschung und Entwicklung

  • Optische Tele- kommunikation
    Optische Telekommunikation

    Komponenten-Testsysteme, Strahlungsquellen, Optische Verstärker und vieles mehr

  • Temperatur- Messtechnik
    Temperaturmesstechnik

    Temperaturmessung

    jetzt möglich

    • in HF- und Mikrowellenfeldern
    • bei Hochspannung
    • in MRT-Anlagen
    • von kleinsten Teilen
  • NIR-Kameras
    NIR-Kameras

    InGaAs-Kameras und -Zeilenkameras, NIR-Vidicon-Kameras und Sichtgeräte für den NIR-Bereich

  • Halbleiter- Messtechnik
    Halbleiter-Messtechnik

    Messung und Feinstbearbeitung von Wafern und Mikrostrukturen

  • Bereich Optische
    Messsysteme
    Optische Messsysteme

    Mit Licht messen

  • Bereich Photonik
    Photonik

    Optische Lösungen

    Für vielfältige Anwendungen in Industrie und Forschung 

    Optische Technologien
  • Laser und Lasersysteme
  • Laserkomponenten
  • IR-Technik und E-O Testsysteme
  • Laserstrahldiagnose
  • Optische Strahlungsmessung
  • NIR-Kameras und Sichtgeräte
  • Optische Telekommunikation
  • Temperatur-Messtechnik
  • Speziallampen und Lichtquellen
  • Halbleiter-Messtechnik
    • Bildverarbeitung
  • Beleuchtungssysteme
  • Objektive
  • Kameras
  • Glasfaser Übertragungssysteme
  • Frame-Grabber
  • Vision-Software
  • Kundenspezifische Kombinationen: 
        VisionPackages
    •


Lösungen

   

Technologien und Lösungen von A bis Z

 

A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |

   

A

Ablenkung, Laserstrahl →
Absorptionsmessungen (spektral) →
Akustische Produktoptimierung →
Akustische Qualitätssicherung →
Autokorrelation →

B

Bahnwareninspektion
- Geschwindigkeit und Länge →
- Linienlichter →
Bestrahlungsstärkemessungen →
Bildverarbeitung →
Braggzelle →

C

Cavity-Dumping →

D

Digitale Mikro- und Makroskopie
- Infinity X →
- Makro- und Systemobjektive →
Display-Vermessungen →
Dosismessungen (optisch) →
Dynamische Wegmessung

E

Elektrische Anlagen
- Temperaturmessung →
Emissivitäts-Messung →
EOM →

F

Faraday-Isolator → Farbmessung →
Fertigungsprüfung →
Fluchtung, Laser- →
Fluoreszenzanalyse →
Fluoreszenzanregung →
Fluoreszenzimaging →
Frequenzverschiebung →
FROG-Messtechnik →
Füllstandsmessung →

G

Geschwindigkeitsmessung →

H

Halbleitermesstechnik
- CV-Messtechnik →
- Vierspitzen-Messtechnik →
HF
- Temperaturmessung →
Hochgeschwindigkeitsanwendungen
- Schwingungsmessung →
- X-Pri →
- FastSpeed (StreamPix + Pike) →
Holographie →
Hyperspectral Imaging →

I

Inspektion, Laser- →
Interferometrie →
Isolation, optische →

J

K

Kalibrierung, Schwingungsmesstechnik →
Kalibrierung von IR-/VIS-Kameras →
Kapillar-Elektrophorese →
Keimabtötung →
Konfokale Mikroskopie →

L

Längenmessung →
Laser →
- Inspektion →
- Strahlablenkung →
- Rauschunterdrückung →
- Intensitätsstabilisierung →
Mikromaterialbearbeitung →
- Intensitätsmodulation
AOM → / EOM →
- Strahlablenkung AOM → /EOM →
- Fluchtung →
- Markierung →
- Ablation →
- Anregung →
- Faserkopplung →
- ns-Laser →
- fs-Laser →
- ps-Laser →
Laserstrahldiagnose
- Leistung/Energie →
LED-Vermessungen →
- spektral, Peakbestimmung →
- Candela-Messungen →
Leistungsmessung (optisch) →
Leuchtdichtemessungen →
Lichtmessung
- Laser →
- LEDs →

M

Magnetic Resonanz-Tomographie (MRT) →
Markierung, Laser- →
Mastering von DVD und Print-Medien →
MEMS-Dynamik →
Mikroskop-Vibrometer →
Mikrosystemtechnik →
Mikrowellen
Modalanalyse →
MTF-Bestimmung →
Multi-Photonen-Mikroskopie →

N

NIR-Imaging →
NIR-Kameras →
- Füllstandsmessungen →
- Schadhafte Früchte →
- Waferinspektion →
- Sicherheitsmerkmale →
- Unterzeichnungen bei Gemälden →

O

Oberflächenmessung →
Optical Cytometry →
optische Heterodyne-Technik →
Optische Kohärenz-Tomographie →

P

Phasenshift →
Photobiologie →
Photometrie →
Photoresist oder Fotolack →
Photostabilität →
Phototherapie →
PIV (Particle-Image-Velocimetrie) →
Plasmaanlagen
- Temperaturmessung →
Pockelszelle →
Polarisationsdrehung
Positionsbestimmung →
Positionskontrolle -> VisionPackages →
Problemanalyse von schnellen Produktionsvorgängen
High Speed-Prozessüberwachung →
Pulse-Picking →

Q

Qualitätskontrolle
- Schwingungsprüfung →
- VisionPackages →
Quantitative Analyse →

R

Radiometrie (Remote Sensing) →
Radiometrie (Lichtmesstechnik) →
Ramananregung →
Raman-Spektroskopie →

S

Schwarzkörperstrahlung →
Schwingungsmessung →
Signal-Simulation →
Sortieraufgaben -> VisionPackages →
Spektrale Materialeigenschaften →
Spektrale Temperaturmessung →
Spektrometrie →
Spektroradiometrie →
Spektroskopie
- Mini-Spektrometer →
- PSS Spektrometersysteme →
- Laser und Lasersysteme →
- - Ramanspektroskopie →

T

Temperaturmessung →
Testsysteme, elektro-optische →
- FLIR-Test →
- CCD-Test →
- Laser-Test →
- Boresight-Test →
- HUD-Test →
- Detektor-Test →
- Multisensor-Test →
- IRCM-Test →
Topographiemessung →
Transmissionsmessungen (spekral) →

U

Ulbrichtkugeln →
Unterzeichnungen
- Gemälde →
- Sicherheitsmerkmale →
UV-Aushärtung, -Trocknung →
UVA-, UVB-, UVC-Messungen →

V

W

Waferinspektion
- Laser →
- NIR →
- MEMS-Geometrie →
- MEMS-Schwingungsmessung →

X

Y

Z

Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung →
Zuschnittsteuerung →